Tài liệu số - Xem chi tiết


Nhan đề: NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES
Tác giả: Nguyễn Mạnh Quân; Cài đặtNguyễn Duy Minh
Từ khóa/ Chủ đề: Tạp chí Khoa học & Công nghệ - Đại học Công nghiệp Hà Nội - 2020 - no.56
Nhà xuất bản: Tạp chí Khoa học & Công nghệ
Năm xuất bản: 2020

Nhan đề:

NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES

Tác giả:

Nguyễn Mạnh Quân; Cài đặtNguyễn Duy Minh

Từ khóa/ Chủ đề:

Tạp chí Khoa học & Công nghệ - Đại học Công nghiệp Hà Nội - 2020 - no.56

Nhà xuất bản:

Tạp chí Khoa học & Công nghệ

Năm xuất bản:

2020

Danh sách tệp tin điện tử
Vui lòng đăng nhập trước khi xem chi tiết toàn văn.. Đăng nhập


Thông tin chia sẻ

	Lượt xem:	0	Lượt tải:	0
	Chia sẻ:	I I I	Bình chọn:
	Lượt bình chọn:	0	Điểm bình chọn:	0
	Chuyên đề:	- Báo – Tạp chí